TW53100A 相位噪声分析仪是一款高性能的频率稳定度与相噪综合测试仪，采用全数字化的算法技术，不仅可以测量相位噪声同时还能测量频率稳定度、相位差、频率差、还可以作为高精度频率计使用。全新数字化测量的先进技术不仅使测试速度与测试可靠性大幅提升而且有效地提高了相位噪声测试精度。53100A广泛应用于时频科研计量机构、高精度频率源实验室、高精度晶体振荡器生产线等。

TW53100A相位噪声分析仪测量射频源相位和频率稳定性。支持1-200MHz的载波频率。53100A的软件功能丰富，可测试待测设备稳定性的一切特性，测试时间范围可以设置为从飞秒到天。53100A的小型化的设计可以应用在PC机和嵌入安装在各类集成系统中，行业领先的测量速度使该测试装置适用于多种应用场景。

TW53100A扩展了传统的测试仪功能，以替代需要进行快速、准确的单边带（SSB）相位噪声和艾伦偏差（ADEV）的测量。

TW53100A的软件功能丰富，可以同时进行所有参数的测量。测试结果可时时显示，可在软件中实现保存、查看、比较和打印的功能。精度和稳定性继承自用户提供的外部参考，该参考可以在支持范围内的任何频率运行，无需仪器本身进行校准。

主要特征：

现在有内部参考选项（OCXO和原子钟）

1-200 MHz的独立输入和参考频率

无需锁相或测量校准

单或双参考振荡器输入允许互相关测量

直观的图形界面使用户能够快速开始进行测量

包括一个可以运行自动测试脚本的嵌入式JavaScript引擎

通过50Ω射频连接器将内部参考选项用作独立频率源

主要测试：

相位噪声和AM噪声在0.001 Hz至1 MHz的频率范围内，通常低于-175 dBc/Hz（10 MHz频率）

亚皮秒精度的相位和频率差实时“条形图”

绝对频率计数为每秒13+位，最多17位

在t=1s时，艾伦偏差（ADEV）通常为5E-15

修正艾伦偏差（MDEV）、哈达玛偏差（HDEV）、时间偏差（TDEV）和最大时间间隔误差（MTIE）

RMS综合时间抖动、残余FM和SSB载波/噪声比

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